物联网、车用电子等新兴应用的快速崛起，以及先进制程、3D堆栈、系统级封装等技术持续进展的双重趋势推动下，半导体测试技术正面临全新的挑战。有鉴于半导体产业于全球封测市场有举足轻重的地位，SEMI以「半导体下世代的机会与挑战」为题，举行先进测试技术国际论坛，邀请联发科技集成电路测试研究实验室主席陈海力及京元电子研发中心资深处长陈文如分享了测试技术的最新发展趋势，及业者应如何将挑战转换为机会的精辟看法。同日亦于会中首次公布已有47年悠久历史的国际测试展会(International Test Conference，ITC)将于今年首度移师亚洲，与SEMICOM Taiwan同期举行第一届ITC-Asia。
ITC-Asia指导委员会成员、清华大学集成电路设计技术研发中心主任吴诚文教授表示，随着科技日新月异，产业必须掌握趋势、先行布局，才能保持竞争力。期许透过推动ITC-Asia在台举行连结产业与学术，为产业创造更多机会。同时SEMI区总裁曹世纶亦表示，SEMI深耕于台20多年来，持续协助半导体产业发展，此次亦偕同国际电机电子工程师学会(IEEE)、Test Technology Technical Council (TTTC)、IEEE 电子设计自动化委员会 (CEDA)、国立清华大学、国立成功大学共同举办ITC-Asia，相信将能藉此为测试产业带来更宽广的国际视野与建立长期交流平台，以集结更坚强的发展动能与力量。
而就目前半导体测试中面临的多重挑战下，联发科技集成电路测试研究实验室主席陈海力以「后摩尔时代的测试挑战」为题切入说明，先进制程更高的变异性与复杂的系统单芯片(System on Chip，SoC)已使边缘缺陷(Marginal Defect)日益增加，同时异质整合封装组件的测试、未来5G和IoT系统所需的系统级测试(System Level Test，SLT)势必将让测试成本的上升。但就目前的测试技术尚无法完全解决这些问题，因此业界需要推动典范移转，从传统以来致力于最小化测试成本的思维，转换为利用测试数据来创造价值。
陈海力主席进一步以美国一家飞机喷射引擎制造商为例分享，利用收集大量的运转数据来进行数据分析，以为客户提供预防性维修、监控功能等服务，证明了能创造更高的价值与利润。因此，收集生产测试中组件状态的特征数据，并建立组件使用周期的特征数据库，将有助于建立最佳的特定组件运作条件，因而能透过监测特征数据的改变来提早预警失效。他强调，测试数据就如同金矿一样，而「测试数据价值建立」(DfTDVC)的设计方法将能为测试业者带来更多的创新与加值机会。
对此，京元电子研发中心资深处长陈文如亦呼应此看法的表示，要克服测试挑战，业界需要把测试视为「必要之恶」的传统想法转换为「守护天使」。因为测试已不再仅扮演确保质量的角色，同时也是生产制程中的一部分，若能透过制程监控来提升良率，将能进一步提升测试的价值。此外，陈文如资深处长提及，ITRS正在推动的RITdb (Rich Interactive Test Database)技术蓝图，透过标准建立将能实现可适性测试(Adaptive Test)目标，并以建构晶粒/组件的数据枢纽让测试成为加值服务。
最后，ITC-Asia组织委员会大会共同主席成功大学电机系李昆忠教授与议程主席清华大学电机系黄锡瑜教授分别介绍了今年ITC-Asia分为会议与展会两大部分。会议部分将汇集全球 IC 设计与测试的专家探讨与分析最新的测试技术趋势，聚焦最新的物联网及车用电子测试与安全性标准和方法及先进的多裸晶整合封装之测试与修补技术等热门主题，三天不间断主题演讲、产业议题、Call for Paper、技术课程。而展会将完整针对集成电路测试领域，包括测试技术与设备龙8long8、可靠度验证服务、探针卡、测试治具、EDA 及 ECAD与测试软件等，盛况可期。
首届ITC-Asia将于9月13~15日在南港展览馆与SEMICON Taiwan同期举行，会中将邀请来自产学研界的重要贵宾发表专题演讲与技术研讨，连结学术界与产业界共同探究克服半导体测试挑战的最适解决方案，协助稳固半导体产业竞争力。
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